测试芯片是确保芯片质量和性能的重要环节，涉及多个方面的测试，以确保芯片在各种实际使用场景中能够稳定、可靠地工作。以下是关于测试芯片的一些主要方面： 功能测试：这是测试芯片的最基本环节，旨在检查芯片是否能按照设计规格正确执行其功能。测试人员会输入一组已知的数据，并检查芯片的输出是否与预期结果相同。如果输出与预期结果不符，则说明芯片存在故障。 结构测试：主要关注芯片的内部结构，以检查是否存在任何制造缺陷或故障。这通常需要使用高级测试设备，如扫描电子显微镜（SEM），来检查芯片的内部结构。
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