集成电路测试技术是确保集成电路产品质量和可靠性的关键手段，它涵盖了多种测试方法和技术，以下是关于集成电路测试技术的详细介绍：功能测试 定义与目的：功能测试是对集成电路的逻辑功能进行验证，检查其是否能够按照设计要求正确地实现各种预定的功能。其目的是确保集成电路在正常工作条件下，能够对输入信号做出正确的响应，输出符合预期的结果。 测试方法：通常采用输入各种不同的测试向量，即一系列的输入信号组合，然后观察集成电路的输出信号，并与预期的输出结果进行比较。测试向量的设计需要覆盖集成电路的所有功能模式和各种边界情况
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