FPGA（Field-Programmable Gate Array）测试芯片是一种灵活的集成电路，可以通过编程实现各种不同的电路功能。对于FPGA的测试，主要涉及到测试方法和测试算法两个方面的研究。 在测试方法上，目前对FPGA的测试仍沿用对ASIC的测试方法，即采用自动测试设备（ATE）。然而，FPGA的管脚数目众多，测试具有其自身的特殊困难。为了完成对FPGA内部资源的完整测试，需要多次下载配置图形，并反复施加激励和回收测试响应。此外，通用ATE在完成测试步骤中的配置功能时，需要以人工或电脑多次
有关“FPGA测试芯片”的最新话题，搜索84 次
哔哥哔特商务网是电子制造业产业链信息交流的平台，分享和剖析电子制造业上下游新技术、新产品资讯；通过“走进企业”、“对话”、“拆解”、“市场解读”、“产业分析”“研讨会专栏”等栏目进行行业深度解读，及时提供线下专业研讨会、峰会论坛、线上会议、直播等行业活动资讯。
