NI将于4月在上海举办第二届“设计、验证及测试论坛”
2005-02-24 08:44:44
来源：电子工程专辑
美国国家仪器有限公司(NI)日前宣布，将于2005年4月15日在上海国际会议中心举办第二届“设计、验证及测试论坛”(DVTF 2005)。NI透露，将邀衣行业内外相关领域的多家优秀企业，如英特尔、科梁科技(AEETEK)等共同参与，为测试测量行业的工程技术人员提供学习与交流平台。
NI中国分公司技术市场经理朱君表示：“虚拟仪器技术一直与最尖端的商业科技密不可分，为工程师们和科学家们提供更强大的工具，完成测试测量和自动化工作。在此次活动中，NI携手其他行业先锋共同展示最新技术，希望能够提供一个学习的平台来帮助用户解决实际应用中的挑战。”
此次论坛将分为热点技术专题与实时应用专题，共包括10余场专题研讨会，以及现场的产品展示。热点技术专题为设计、测试以及自动化行业的软/硬件工程师、以及希望学习测试测量行业发展趋势和最新技术的专业人士而度身定制，专题包括：《最新总线标准—PCI Express》，了解如何运用这一技术来减少测试工作的时间，并解决新的应用问题；《运用Microsoft.NET技术来开发测试及测量应用》；《运用了LabVIEW和FPGA的NI最新RIO技术》，使您自定义测量硬件电路。
实时应用专题针对希望搭建一个具有鲁棒性、可靠性和确定性的测量、控制及自动化系统的专业人士，在这一主题的论坛中，与会代表可了解到NI及其它行业专家为测量及控制系统所提供的实时平台。
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