b. 测试电路，见图1-5(1)。
c. 设置：
电压测试仪所示电压的最大值为U时的频率等于f1和f2。
d. 测试的量值：绕组的电容量CW。
1.5.2 磁心用材料为高磁导率材料
测试的元件采用高磁导率磁性材料制作磁心，且其磁导率量值随频率而变化。
a. 测试方法
本测试借助阻抗分析仪以频率的阻抗（电容性）特性模式进行，这种被测试零件的阻抗主要由绕组的电容量决定。具有代表性的频率范围从100kHz一直延伸到10MHz。在该频率范围内绕组的电容性特征曲线显得非常平直。阻抗分析仪的补偿是在任何一项测量进行之前完成的。绕组的电容值可以在阻抗分析仪上直接地读出。
b. 测试电路，见图1-5(2)。
c. 设置：在频率范围内，阻抗值的测量由电容性部分控制。
d. 测试量值：绕组电容量CW。
1.6 脉冲电流的测量
a. 测试方法
因为具有矩形波的电压脉冲决定电压的磁化作用，并在脉冲中止时完成复位，故用示波器对绕组的脉冲电流进行测量。
b. 测试电路，见图1-6(1)。
c. 设置：
脉冲电压UE（确保被测量的电压和直接调整测试设备）。
电压幅值UE。
脉冲长度td（上升时间tr≤3000ns）。
重复频率fp=1/Tp，（见图1-6(2)）。
d. 测试量值（公差限制按照数据表的详细规定执行）：
电压幅值UA；
脉冲电流IP。
e. 仪器：
脉冲发生器用配备的测量电阻或者用箝位安培表实现，允许Um的误差为测量值的±2%。具有水平的和垂直的渐显指示线，允许设置其标度因子±2%的误差。
f. 说明
这种测试也可以用来评价尽可能与已经正确连接的插脚一样的匝比和极性。
1.7 绕组的电阻值测量
a. 测试方法
借助电阻(R)测量仪（4-极测量法）对绕组的直流电阻值进行测量。
b. 测试电路，见图1-7。
c. 举例：测试电阻值RCU1。
① 测试量值（依照数据表中的详细规定限制测量公差）：绕组的电阻值Rcu。
② 仪器：允许存在测量值±1%误差的R-测试仪。因为仪表具有数字式显示装置，测量范围选择其测量值最小可以用3位数字来显示。
1.8 高电压的测量
1.8.1 不存在局部放电状态下的高电压测量
在不考虑任何局部放电的情况下，用于对元件的电压强度进行测试的这种规则是可行的。对于局部的间隙性放电时的测试则按照M3024执行。
交流电压测试模拟暂时增大交流电压的影响。它像为高电压相容性设计一样地提供指导信息，这里的元件绝缘强度是足够耐压的。
a. 测试方法
为了保证电压绝缘的强度，在被测试的绕组上应施加交流电压。如果没有发生绝缘击穿，则测试被认为已通过。
b. 测试电路：高压测试台的方框图见图1-8(1)所示。
由发生器产生的50Hz或500Hz频率的交流电压施加于高压变压器的初级绕组上，测试设备则连接到变压器的次级绕组。交流电压的量值则借助电压分配器进行测量。为了检测任何击穿情况，应该测量初级电路或次级电路中的电流。
关于变压器电路的要求，在技术标准CIN 57432的第2部分有详细的规定：电压的包络线必须接近于几乎是两个半波的正弦曲线振动，以及需要具有最大均方根值 的比率。在测试电路内的电压应充分地固定，以便保持实际上不受变化的漏电流的影响。在测试设备上的局部放电或者预放电都必须不降低以上范围的测试电压，而在测量击穿电压的时间周期内，测量电压将受影响。
依照DIN 57432技术标准的第2部分，在测量交流电压（包括测量电压分配器或变换器上的电压变换率误差）时，被要求具有3%的测量精度。
c. 设置
为了监测绝缘电压强度，将以如下测试电压之一施加于相关的绕组（电压增速为0.5~4kV/s）：50Hz交流电压均方根(rms)测试电压量值和测试周期都在数据表中作了规定；500Hz交流电压均方根测试电压量值和测试周期也在数据表中作了规定。
d. 说明
假如不存在VDE规则，为了实现某种形式的验收，用户和VAC将协商决定测试电压和测试周期。
最终的测试（设备测试）将以正常测试电压的125%和用1~15S(50Hz)或0.2~2S(500Hz)的测试周期完成。
在相关测试电压条件下，对于用户事先提出的任何受控制的测试项目都是可以达到的。对于仅仅为了形式上的认可而进行的最大为1分钟的测试周期，或者对设备进行1~15S(50Hz)的测试（例如在器件测试的显示器范围内）。这样的控制测试仅仅可以实现一次。附加的重复测试和为进一步形式的认可测试所作的数据表是一致的。
e. 测试量值
必须没有发生绝缘被击穿。如果万一绝缘被击穿的情况发生，则测试将被认为已经失败——这种情况可以发生在：流经次级侧的有效电流>1mA，或者，如果出现流过初级侧的电流超过开路电流的3倍（总电流），或者如果电压急剧地下降。
1.8.2 存在局部放电情况下的高电压测试
高压测试为元件的耐压强度和局部放电的发生提供信息。如果它们所起的作用是延长了时间周期，则局部放电可能破坏元件的绝缘。因此，在元件工作的时候，必须没有发生局部放电现象。如果安全设计和形式上认可来自局部放电的可能性，则将如在M3014标准中所叙述那样仅仅是为了完成耐压强度测试的需要。
a. 测试方法
为了监测绝缘的耐压强度及来自局部放电的可能性，应将交流电压施加于被测试的绕组上。为了测试的用途，采用插入变换器同样类型的电路，非绝缘内部导体必须将其内部的空隙处用绝缘材料充分地填满。在测试电压下降到局部放电电压之后，如果局部放电没有超过规定的限制的量值，则测试被认定已通过。
b. 测试电路
典型的测试电路（IEC270，德国版本DIN 57434/VDE 0434），见图1-8(2)。
采用电源发生器产生50Hz到300Hz和500Hz频率的交流电压施加于高压变压器的初级绕组。测试设备则连接到次级绕组上。局部放电的测量仪器被设置在测试设备地线的末端。因此，测试装置的低电压一端必须与地面进行绝缘。交流电压的量值借助于电压分配器进行测量。
为了检测任何一个击穿，需要测量在初级电路或在次级电路中的有效电流。局部放电将借助于局部放电测试设备测量。变压器电路的测量是在技术标准DIN57432中的第2部分规定了的：电压的包络线必须按几乎近似于正弦的两个半波振动。并且要求具有 的峰值(rms)比率。
在测试电路中的电压应该充分地稳定，以便保证实际上不受变化的漏电流影响。在测试设备上给出的局部放电或预放电必须不会降低测试电压，但测量击穿电压的时间周期则会受到影响。
按照DIN57432第2部分的规定，在测量交流电压时要求测量结果达到3%的精度（包括电压分配器或变换器转换电压比率的测量误差）。
根据技术标准IEC270(DIN57434/VDE0434)，局部放电是确实存在的并且可以监测。在测试设备中的局部放电将在测试电路中造成电荷平衡和引起电流脉冲的升高。这些电流脉冲则借助于测量（耦合四端网络）的电感值来检测，并且在局部放电测量仪器上显示电荷的数量(PC)。局部放电测量仪器频带的中心频率在0.6和2.4MHz两者之间。
为了测试电压强度，交流电压将被施加于绕组，固定的或传导的部分被测试，在测试电压上升到最大值的时间周期t1的持续时间内，交流电压将增大，并且维持到t2时间（见图示）。
进一步的测试指令将与测试电压时测试设备的局部放电相关，如果在测试电压达到规定值后和测试持续时间t2已被终止后没有发生局部放电，则测试过程即告完成，而且元件被认为没有发生局部放电。然而，如果发生局部放电，则在测试持续时间t2截止前，测试电压将会降低，直到局部放电的数量小于规定的限制值（技术标准的限制值<5PC）或实际的电压值降落到了局部放电击穿电压允许的最小值。
c. 设置
为了监控绝缘的耐压强度，以下测试电压的方法之一是将电压施加于相关绕组上（电压以0.5kV/s~4kV/s增加）：50Hz交流电压、rms测试电压量值、局部放电击穿电压和测试持续时间均在数据表中作了规定，或者500Hz交流电压、rms测试电压量值，局部放电击穿电压和测试持续时间也在数据表中作了规定。在测量频率0.6MHz和2MHz两者之间评估局部放电的可能性。
d. 测试量值
必须没有发生击穿。在大于1mA的有效电流流经次级侧，或者如果存在流经初级侧的电流超过开路电流的3倍（总电流）时，此时如果万一发生击穿，则测试将被认为已经失败。Uta的评估：在局部放电击穿电压达到最大值时，局部放电的数量必须低于规定的限制值（技术标准值为5PC）。对于特殊需要的设计，例如大型元件，允许具有较高的限制值，这在数据表中也有规定。
1.9 浪涌电压测试(M3064)
a. 测试方法
按照规则，浪涌电压测试应该按某种类型的检验测试来实现。浪涌电压测试与正确地选择材料（附着力渐减的放电）的信息一样，为高压的相容设计提供指导信息。
b. 测试电路
浪涌电压的测试台由浪涌发生器、存贮示波器和可能需要用来存贮数据与处理测量值的计算机等组成。浪涌电压已按波前时间和反半衰期进行了标准化(DIN VDE 0432 T2)。
以下的浪涌电压可以设置为：1.2/50ms、0.5/700μs、10/700μs和100/700μs。
测试设备将连接到屏蔽箱内部并分别地受5种浪涌电压的约束，存在正极和负极。
c. 设置
如果仪器调整不作任何其它量值的规定，以下的浪涌电压测试按照IEC664和DIN VDE0160实施。
浪涌电压测试依照IEC60-2，VDE0432第2部分和FTZ 12 TR1第2部分执行。过电压范畴（规定的额定电压直到1000V rms）是与用户的要求相吻合的。一般情况下，过电压范畴Ⅰ适用于没有可能发生过电压的器件上，或者作为保护过电压的器件上。过电压范畴Ⅱ适用于需要考虑到突然出现过电压时（但是为开关的过电压）。过电压范畴Ⅲ的运作意义包括连接到电源的电路。采用双绝缘或强化绝缘，则下一步将有更高电压范畴的过电压可供选择。
d. 测试量值
浪涌电压发生的评估是用测试仪直观实现的。通常情况下，击穿可以借助测试电压突降时十分清楚地检测出来。
1.10 绕组电压测试(M3204)
由于在多个不同绕组之间的峰值电流和主要电流的变化，将在元件绕组的内部出现电位差，这将对导线的绝缘产生有害的影响。有缺损的绝缘层将会导致绕组短路，使元件早期失效。为了检测这类问题所在的区域，零件被从属于绕组电压测试。
a. 测试方法
采用绕组电压测试仪，在相当于330Hz频率的重复比时，绕组上被测试的电压受电压脉冲的约束。接着发生的向外摆动的瞬变过程需要被简叙和评估。外摆的变化状态取决于测试设备和内部的开关电路。这些因素一起形成了并联谐振电路。使用的电流和电压包络线示于示波器，绝缘的缺损也可检测。
b. 测试电路
绕组电压测试借助例如由Baker公司生产的DW8515绕组电压测试仪实施。
c. 设置：电压脉冲的峰值（等于15kV），脉冲的数量。
d. 测试量值：用视觉观察电压的包络线。
e. 实例：在无缺损零件上，电压的典型包络线如图1-10所示。
图1-10说明：以下为绕组绝缘被破坏判据的标准观点：
——测试电压突降
——外摆的时间常量瞬间从相关元件的典型值强烈地偏离。
1.11 插入损耗测试(M3212)
插入损耗测试的对象是诸如射频干扰抑制扼流圈及其相似器件的无源四端网络。
1.11.1 对称的测量
a. 测试方法
使用的测量程序叙述如下，无源四端网络例如射频干扰抑制扼流圈、滤波部件或50W系统以内的滤波器等的对称插入损耗需要测量。
b. 测试电路，见图1-11(1)测量使用的对称性变压器（平衡—不平衡变换器）和测试设备两者之间的电缆必须尽可能的短并且被屏蔽。
c. 设置（按照数据表中的详细规定执行）：测量频率f（测量点的频率处于10kHz和30MHz两者之间）；测量电流Imeβ≤20mA。
d. 测试量值：所测试的量值是根据各自的频率测得的插入衰减量aE（单位dB）
1.11.2 不平衡的测量
a. 测试方法
使用的测量程序叙述如下，无源四端网络诸如射频干扰抑制扼流圈，滤波器部件或50W系统内的滤波器的不对称插入损耗需要测量。可用的频率范围从10kHz延伸到30MHz。不对称测量也可以用直流偏置法实施。
b. 测试电路，见图1-11(2)
在没有预加负载的情况下测量插入损耗，不需要耦合电容。在测量过程中，开关S1保持开路状态。
对元件CK和D1-3要求具有直流偏置，列举如下：CK=0.33μF(20kHz≤fmeβ≤30MHz)；CK=0.47μF(10kHz≤fmeβ≤10MHz和LD1-3>5×LPr)。
在I-=IN（根据数据列出的测试设备的额定电流）时，LD1-3归类于去耦扼流圈的电感值，而LPr归类于测试设备的电感值。
开关S2如此地设置则能满足方程式要求；开关S1是闭合的。
c. 设置（按照数据表中的详细规定）：
测量频率f（测量的频率点处于10kHz和30MHz两者之间）；测量电流Imeβ≤20mA（为了直流偏置，在稳压器上设I-=IN）。
d. 测试量值
测试的量值是在不同频率时的插入损耗量值aE，如果适用，则直流偏置电流I-=IN。
1.12 焊接性能测试(M3029， M3229)
焊接性能测试应按照IEC68-2-20或IEC68-2-54，借助这个测试，我们将可确定元件端头的焊接是否容易，以及在焊接过程中是否可能造成元件损坏。
这项测试分为“不存在老化情况下的抽样测试”和“存在老化情况的抽样测试”。对于电源部件，它们是按不检验进行的，或者按功能性测试实现的。对焊接抗热性的测试按类型检验测试。
依照IEC68-2-20之4.6.1款并包括焊料sn60pb，采用的焊接槽必须有足够的尺寸，测试是在距离焊接槽边缘至少10mm处实施的。
1.12.1 不存在老化情况下的焊接性能测试
（按照ICE68-2-20测试Ta，测试方法1见其4.6节）。
本测试适用于评价线状和扁平状引线的焊接性能。所谓焊接性能是指引线表面可被熔融焊料良好浸润的特性。元件的引线在进行本测试之前应该接受直观的检验。引线上必须不存在松香残渣。在焊接工艺中，可以使用微量的助焊剂（例如Litton kester公司的Flow Agent G932，F SW2型助焊剂）。接着是大约1分钟的干燥时间；元件引线应被浸没在焊接槽内。在焊接槽中焊料表面上的氧化皮要在每一次测试进行之前使用刮削器立即清除掉。
以下的条件必须遵守：
焊接槽中的温度：235℃±5℃
浸渍速度：10mm/秒左右
直径等于1.5mm的引线在焊接槽中应停留的时间：2秒±0.5秒
在特殊的情况下，由于热容量的原因，引线在焊接槽中停留的时间可以设置为5秒±0.5秒。
1.12.2 存在老化情况下的焊接性能测试
（按照IEC 68-2-20之4.5.3节实施）
本测试在155℃时老化16小时之后进行，这相当于在标准的气候条件下2-4年期限的贮存周期。测试按破坏性方式实施。测试进行的过程按“不存在老化情况下的焊接性能测试”的叙述办理。
评述：
元件引线的表面必须用光滑的擦拭干净的涂层覆盖，每一根引线上仅仅允许存在少量的无规律地分布的缺损（微小的孔隙等等），这些缺损不能超过总面积的5%。在距离外壳等于1mm的自由区域，不考虑进行评价是允许的。如果外壳出现变位，则应保证在外壳和连接表面两者之间存在至少达0.6mm的距离，估计焊接范围可超过接触表面而达到0.6mm（见图1-12所示）。元件末端的界面将不包括在本焊接性能测试范围之内。监视焊接状况是使用4~10倍放大率的放大镜。
测试中必须提供充分的照明。在有争议的情况下，人们可以借助润湿标尺观察，进行相应的测试（见下节所述）。
1.12.3 采用润湿标尺测试焊接性能
根据技术标准IEC68的2-54章节，焊接性能不仅由测试另件浸入到液态焊料后，接着进行光学判断来确定，但也会借助成对的润湿标尺来确定。这种测试方法实际上适用于比较的用途，如果光学判断不能产生明晰的结果，这种方法也适用于评估测试。
a. 测试方法
对于这种测试方法，成对的润湿标尺是必需要的，例如由GEC公司制造的新月型标尺。测试另件则附着在焊接槽上方的标尺上，然后以预设的速度浸入到液态焊料中，接着在其中停留规定的时间后，测试另件再以相同的速度从焊接槽中撤回。
在这个完整的工作过程时间周期内，标尺将记录下在浸入过程中对测试另件所使用的力量。这个力量是由测试另件在焊接槽中的浮力引起的数值，且这个数值是由液态焊料对测试另件造成的垂直方向反作用“重力”。此数值为正值时表示由浮力支配，为负值时则意味着由“重力”支配。液态焊料对测试另件的垂直浮力是由另件的表面张力引起的，并且比测试另件表面吸收的力量更强，即有更好的焊接性能。测量的力量必须降落到规定的最小量值以下。
b. 设置：
焊接槽内温度：180℃~ 450℃
浸渍速度：0.5，1，2，5，10，20mm/s
浸渍深度：0~9mm（每一步 1mm）
浸渍时间：0.5，2，5，10，20，100s
加力测量等候的时间：0~9s（每步1s）
c. 测试量值：润湿力
1.12.4 焊接抗热性的测试
（按照IEC 68-2-20测试Tb，测试方法1-见其5.4章节）。这项测试被用来评估抑制热负荷上升时与焊接有关的元件的电阻值。为了检验它们的焊接抗热性，引线应在焊剂中浸渍，而后再浸入到焊接槽中；以下的焊接条件必须遵守：
焊接槽中的温度：260°±5℃
浸渍速度：近似于10mm/s
在焊接槽中的停留时间：近似于10s
浸渍深度：距离外壳2mm
评价：
在这项测试中，元件外壳的底部必须不存在明显的变形或变色。检查后再进行测试，在反复进行功能测试中，元件必须具有完全的功能。直到反复的功能测试完成，在最少30分钟的等候时间内必须遵守上述条件。
1.13 振动测试(M3209)
a. 测试方法
这项测试按照DIN IEC 68-2-6执行，并且被用来评估元件能抗拒多大机械振动的能力。这项测试可以显示元件机械性能的薄弱环节，或者可检测在规定性能指标上的变化。被用作连续负载的过程必须在数据表中作出规定。以下的情况是可能的：除了依照测试元件规定的等级负载之外，还有随活动频率变化的连续负载和固定频率上的连续负载。
b. 测试设备
存在引线端头的元件主要是被焊接到测试电路板上，或者用螺钉拧在两块铝板之间的振动台上。依照相关的应用要求，附加的机械紧固件——为所需要的用途提供——可以用于引线的端接。因为所提供的元件尺寸不同和存在多种多样的测试电路板。用螺钉拧紧来连接的元件则直接地拧上，或者使用相关的器件替代连接到振动台上。
1.13.1 存在活动频率情况时的连续负载测试
这项测试的精确性将由采用连续负载时的频率范围、振动幅度和振动周期的时间期限决定。
a. 频率范围
频率范围是由选用的上限频率（10到5000Hz）和下限频率（0.1到100Hz）确定的。
在选择频率范围时，对可能存在的特征频率要进行注释。在这个频率范围，测试元件可能受到所发生的机械振动、功能紊乱、失效和不利条件的影响。这些特征频率被包含在测试过程中，如果不存在有关这些特征频率量值的指导信息，所选择的频率范围应尽可能的大些。频率范围应在每分钟1个倍频程上运行。
周期的数量是按以下顺序：1，2，5，10，20，50，100取得的。如果需要更高的周期数量，相关的等级应该保持。
b. 振动幅度
振动幅度是从以下图表中选取的。低于过渡频率fü将产生恒定的偏转。在此，过渡频率被假设可以选在8Hz…9Hz之间或57Hz…62Hz之间。
1.13.2 振动幅度测试             (KBO7OTEO)
过渡频率：8~9Hz 过渡频率57~62Hz
低于过渡频率时偏移的幅度mm 高于过渡频率时偏移的幅度m/s2 低于过渡频率时偏移的幅度mm 高于过渡频率时偏移的幅度m/s2
0.35 0.98 0.04 4.90
0.75 1.96 0.08 9.80
1.50 4.90 0.15 19.60
3.50 9.80 0.35 49.00
7.50 19.60 0.75 98.00
10.00 29.40 1.00 147.00
15.00 49.00 1.50 196.00
  2.00 294.00
  3.50 490.00

1.13.3 存在固定频率情况时的连续负载测试
这项测试用活动频率测试连续负载期间确定的特征频率，或者影响到数据表中规定的频率之任何一种频率实施。振动幅度也将在数据表中规定。在此，可以优先选择来自以上表格中的数值。
对于负载时间，使用下列数值之一：
10min±0.5min；30min±1.0min；90min±1.0min；1H±5.0min。
负载变化的数值则不超过107。
1.13.4 规定测试元件等级的负载测试
作为实际的应用，把测试元件细分成测试元件等级是很有意义的探索。依照如下图表中所示，每一个等级将分派测试参数（建议测试参数依照DIN IEC 68-2-6执行）。
评价：特征频率的存在要进行注释。功能的测试按数据表中的规定已得到满足。必须不改变有关的装配位置。
1.14 可靠性测试(M3225)
这里的概述包括了对测试进行严格分级和对测试元件数量的详细叙述，它们被用作可靠性技术条件的标准范围。
作为基础的测试应尽可能多地建立在DIN技术标准的要求上。因此，这里将不要求对测试程序作详细叙述。该信息可以从有关的技术标准中获得。
测试元件应尽可能多地从正在进行测试的产品中选取，或者，测试项目是最终的系列产品时，测试元件要利用与产品相同的材料和程序生产。
评估：
为了评价元件的可靠性，应对规定的电性能和磁性能参数进行整体的测量（接着在室温下进行2小时持续测试）。这些量值必须按照数据表中允许的公差范围内完成测量。光学的检验应该没有发现任何外部的改变，例如破裂或类似的损伤。
失效是不允许的。
如果测试元件失效，在25件被测元件之外应另外备分一些元件进行相关的重复测试，否则，必须借助技术手段消除这些缺陷。
1.15 机械性能和最后的直观测试
在正常情况下，这项测试是元件封装之前的最后测试。因此，在这项测试中，测试人员利用有关测试批次的总状况是特别重要的。
在测试一览表中规定的样品参数必须能够反映出整个批次的状态。对于测试样品特性的详细叙述请见下表。
另外，利用目测法检查产品质量的一致性是很有效的，但不是仅仅检查单个元件，而应测试货架上的全部元件。这样，甚至更小的缺陷例如铸件的高度、引线长度、标牌和污迹等都能容易地检测出来。
这项测试方法必须进行定标并连接到测试监视装置上。
机械性能和最终目测一览表
测试项目 采用的技术条件 测试工具
1. 外形尺寸
a. 长度、宽度、高度 依照DIN ISO 2768之1节，公差等级C，额外的公差按照数据表或工作一览表实施。 测量滑块
b. 装配（螺钉拧紧、压接螺母、打孔）另件接触的平面度 依照数据表中规定的技术条件。如果没有详细叙述，简化的测试为：元件在平滑的表面（例如格栅状面板）必须不摇摆。如果存在问题，测试则依照DIN ISO 2768之第2节执行，公差等级L。 探测量规直刃尺或格栅平板
2. 外表
a. 表面状态 没有孔洞、气泡、明显的绕圈和无关物质的杂质。 目测检查
b. 洁净度 在非铸造另件的情况下，外壳、插脚、绕组等必须没有松香、石蜡、润滑油、流动媒介物以及焊接的溅落物。 目测检查
3. 标牌
a. 完整性  目测检查
b. 抗擦除能力 标牌上必须没有涂料，如果有问题，测试抵制清除媒介物的能力则按M3208进行 绵纱或纸巾
4. 铸件
a. 表面光洁度 坚硬、平滑和无附着物的表面 目测检查  手指触摸
b. 垫板高度 用风去除覆盖在铸件上的树脂（轮廓薄而可见），例外的情况是：局部铸件，风吹掉的仅仅是湿气（轮廓是明显的） 目测检查
5. 接头和紧固件
a. 所有接头和紧固件的位置 DIN ISO 2768公差等级C，导线按DIN ISO 2768公差等级V自由地接出，附加公差按数据表或工作一览表 测量滑块
b. 紧固件设计 按照DIN ISO 2768之第1节，公差等级C，附加公差按数据表或工作一览表 测量滑块、拧紧螺栓
c. 引线长度单根导线和缠绕导线 按照数据表，否则3.5mm+0/-0.5（焊接点没有考虑） 测量滑块
d. 接头公差