磁损测试平台数字激励源的软启动电路设计
2017-08-04 09:51:17
来源：电子变压器与电感网
点击：1237
磁性元件是电气设备中的核心器件，起到储能、电能隔离等作用。磁性元件温升过高将显著影响电气设备的性能与可靠性，因而对磁性材料损耗进行测试并获得相关激励条件下的损耗数据非常重要[1-2]。厂家一般需要提供磁芯在正弦激励下的损耗数据，因此正弦信号源是整个磁损测量系统的核心装置。
通过模拟电路产生正弦信号虽然具有较好的精确度，但稳定性相对较低且不易调节，电路系统体积庞大。直接数字频率合成技术(DDS)具有频率分辨率高、频率转换速度快、相对带宽宽等优点[3]。采用DDS技术生成正弦信号智能化程度高，通过软件控制便于实时控制。但是基于DDS技术生成的信号瞬间，电路的动态响应时间长，经过后级功率放大器放大后对测试元件产生较大的冲击电压、过电流等现象，对测试设备的可靠工作产生严重危害。同时，磁芯元件的功耗对激励波形较敏感，畸变的暂态波形会影响测试精度。为了克服以上缺点，本文提出了一套软启动控制装置，能有效克服DDS芯片输出信号瞬间的暂态过程和关断延时过程，使被测磁性元件获得较好的激励波形。
详细请查看附件
通过模拟电路产生正弦信号虽然具有较好的精确度，但稳定性相对较低且不易调节，电路系统体积庞大。直接数字频率合成技术(DDS)具有频率分辨率高、频率转换速度快、相对带宽宽等优点[3]。采用DDS技术生成正弦信号智能化程度高，通过软件控制便于实时控制。但是基于DDS技术生成的信号瞬间，电路的动态响应时间长，经过后级功率放大器放大后对测试元件产生较大的冲击电压、过电流等现象，对测试设备的可靠工作产生严重危害。同时，磁芯元件的功耗对激励波形较敏感，畸变的暂态波形会影响测试精度。为了克服以上缺点，本文提出了一套软启动控制装置，能有效克服DDS芯片输出信号瞬间的暂态过程和关断延时过程，使被测磁性元件获得较好的激励波形。
详细请查看附件
本文由大比特资讯收集整理(www.big-bit.com)
声明：转载此文是出于传递更多信息之目的。若有来源标注错误或侵犯了您的合法权益，请与我们联系，我们将及时更正、删除，谢谢。
暂无评论