有关“磁性元件损耗”的最新话题，搜索1 次
本文围绕高频开关电源磁性元件损耗问题，系统分析了磁芯损耗与绕组铜损的形成机理，在此基础上建立Steinmetz经验模型、广义Steinmetz模型以及改进广义Steinmetz模型，并结合交流电阻修正思想构建磁性元件总损耗模型。
通过对磁性元件的损耗分析，构建了总损耗模型，该模型的磁芯损耗考虑了波形因素，铜损耗考虑了高频率对损耗的影响，用交流电阻损耗代替直流损耗，使得总损耗计算值更接近实际。对该模型求解极值，推导了最小损耗时的磁通密度与线圈匝数计算方法。通过对损耗、温升与绝缘关系的讨论，提出了提高磁芯元件功率密度设计方法。
