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本文对高频平面绕组损耗的产生机理及电磁场分布进行理论分析，基于Maxwell电磁场微分方程，推导计算平面绕组损耗一维模型，并分析一维模型计算精度低的主要原因。在传统一维模型基础上考虑矩形导体边缘效应，通过对导体二维磁场正交分解的方法，建立基于二维模型的平面绕组损耗的理论计算公式。
文章提出了一种简单的方法，给出了包括二维(2-D)边缘效应在内的绕组交流(ac)损耗的估算方法。文章首先叙述用一维(1-D)分析法估算线绕绕组的损耗。然而，因为二维(2-D)边缘效应引起的附加绕组损耗非常明显，但又不能用1-D方法分析估算，故本文在1-D分析方法的基础上建立起了一组用1-D分析结果作校正系数的2-D边缘效应估算法。文章还采用有限元分析(FEA)法验证了所估算的结果。
