绕组损耗是指电流流过磁芯绕组所引起的欧姆损耗，工程上常称为铜损或铜耗。绕组损耗的大小受多种因素影响，包括工作频率、线圈绕法、绕组与气隙相对位置等。 在低频情况下，绕组损耗可以直接用流过绕组电流有效值和线圈的直流电阻进行计算。但随着工作频率的提升，绕组导体内会产生集肤效应和邻近效应，导致绕组损耗的计算变得复杂。同时，由于漏磁通和磁芯气隙导致的散磁通对绕组损耗的影响也变得越来越严重。 绕组损耗通常比磁芯损耗更难以处理，特别是在高频情况下。高频电流聚集在导体表面，这是由导体内部的涡流造成的，称为趋肤效应。
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