电抗器气隙部分磁通外溢现象分析
为了抑制磁饱和,电抗器在铁心的腿部插入了气隙。为了降低气隙的磁阻,磁通倾向于膨胀,使得磁通通过的截面积大于铁心的截面积。这种现象被称为磁通展宽(fringing),根据几何假设,展宽宽度通常被估计为气隙长度的一半。另一方面,由于气隙附近磁通集中,会产生漏磁通,因此从原理上很难将测得的磁通区分为展宽磁通和漏磁通。因此,尽管磁通展宽宽度对电抗器的损耗和电感等性能有很大影响,但迄今为止尚未进行定量评估,也未明确其受哪些因素影响。因此,本研究在进行二维电磁FEM仿真的同时,进行了电磁学方面的讨论,分析了磁通展宽的大小受哪些因素影响。

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