研究背景：磁放大在电源上工作时，经常由于在做成成品之前破坏。原有的特性，致使电源在运行中时常出现输出电压偏高或偏低等。
具体分析：从大多数不良品来看，我们可以从如下几点来分析：
(1) 一般此类电感器圈数很少，不会因为圈数而出问题，那就可以确定是磁心（amorphous core）存在问题，具体为磁心的磁通密度 (B)。
若 B 偏下限时，则输出电压走上限；若 B 偏上限，则输出电压走下限。
a. 全磁通φss（避免低负载时电压下降）
b. 磁滞回线 B(H) 矩形比（避免全载时电压下降）
(2) 在制程中可能导致此问题的原因如下：
a. 绕线时，外壳对内部的带材有个挤压的应力，会导致带材的破损及断裂。
b. 在组装外壳的时候可能会导致壳体与带材间的挤压，从而导致损坏等。
c. 带材在圈绕的时候，松紧度及首尾的重叠（也就是说圈绕的圈数可能会多点）。
d. 最恶劣的就是用料错误（带材的材质），此项产生的机率很低很低。
e. 作业员把不良品（被摔过的，如摔在地上或被外力施压过）流入下一站位等等。
之前的对策为：
a. 供应商在做每个机种试验时都需向客户借一台电源，进行 100% 动态测试，测试规格会在 SCD 注明（例如：动态测试3.3Vdc@Output 5V×0A；3.3V×0A；12V×12A；-12V×0A；5Vs×2A；12V2×6A 3.3Vdc SPEC 范围 = 3.14 ~ 3.46 Vdc）方可出货。
此方案不管是对厂商或客户都会带来很多人力及时间的浪费，但品质可以得到保证。
b. 利用 B-H 测试仪进行测试，但此仪器非常昂贵，人民币大约 80 万，制造商不能接受，目前供应商都有此仪器。
c. 如尝试用 LCR meter 来测试的话，测出的结果不明显，良品与不良品很难区分且从科学的角度出发解释不通。
d. 如果把我们的需求告诉磁心的原厂，请他们务必按照其规格生产，各项参数在成形之前需考虑到绕线时受到的影响。换句话说也就是请磁心的原厂保证出货品在绕完线后依然 OK。
此项要求对目前的技术上及生产成本来讲都是很大的挑战!
现阶段研究对策：
(1) 在制造商端，对其绕线时使用的力度（mechanical strength）管控
(2) 通过此研究力求在静态测试（L-testing of amorphous core）的时候辩别出良品与不良品
(1) 的具体方案如下：
a. 在成品制造商端，进料检验的时候应对来料磁心的外壳受力情况做测试，计算公式如下：
机械力= 6 × F × (da + di) / (3.14 × h ×(da - di)2)

式中：
F：一直到外壳破裂（凹陷）的径向力 (N)。
da：外壳的外部直径 (mm)
di：外壳的内部直径 (mm)
h：外壳的高度 (mm)
b. 在制程中应注意其绕线及固定磁心的方式：

c. Amorphous core在受到外界机械力会导致带材的破损：
(2)：L-testing of amorphous core
测试原理及计算公式：
a. 被测对象应在起始测试状态下为饱和状态或预先施加一短暂的直流脉冲使其饱和，然后在剩磁点检测。
注：
Point A：检测出由于绕线时机械应力或其它外力导致铁心损坏。(u>200)
Point B：检测出磁滞曲线的矩形比(低电感意味高矩形比)。(u>8000)
具体方案如下：
计算电流公式：
N×I=H×Lfe——电流 (I)，单位：mA。式中：磁场强度 (H)，单位：mA/cm。
磁路长度 (Lfe)，单位：cm 。
计算磁导率 (u) 公式：
u=79.6×L×Lfe/N2×Afe 式中：电感 (L)，单位：uH。 绕线匝数 (N)。有效面积 (Afe)，单位：cm2。
下面以 R21A56-0001I (L205) 为例演变过程如下：
磁心尺寸：12mm×8mm×4.2mm
各项参数：Afe=0.07cm2，Lfe=3.14cm，Mfe=1.7g。
Point A：f=100khz Iac=HL/N=4ma/cm×3.14cm/8=1.57mA
Idc=HL/N=1200ma/cm×3.14cm/8=471mA
由u=79.6×L×Lfe/N2×Afe→L=u×N2×Afe/(79.6×Lfe)
则结果为：0.27046uH < L <3.58480uH
Point B：f=100khz，Iac=HL/N=4ma/cm×3.14cm/8=1.57mA
Idc=HL/N=0ma/cm×3.14/8=0mA
U的计算如上所述，可得：
7.169605uH < L <143.392119uh。
由PointA，通过上述计算得：0.27046uH < L <3.58480uH
由PointB，通过上述计算得：7.169605uH<L <143.392119uh
在使用此测试方法时，还应注意以下几点：
a. 如果同时采用 PointA and PointB ，可以得到全面的讯息及准确的答案。但是如果因外界因素仅有一种测试方法可采用时，最好是能采用 PointA。
b. 有特殊情况必须得采用 PointB，千万记得在测试前一定要加一个直流脉冲（H>1000ma/cm），使被测铁芯饱和方可进行下一步测试。
c. 最好的测试条件是提供一额外的直流电流源。如果没有的话，可采用带直流选择的测试仪器（HP4284A）来提供较小的直流电流来实现 PointA，准确度相对较差，应做适当的调整：直流电流较小，应提高u值上限。前提是感量计提供的直流电流足以使被测产品磁芯达到饱和。
d. 绕线圈数的增加会减少测试方法的精度，因为圈数增加了电感量也就相对增大了。小的磁芯（外径小于 12mm）及绕线圈数低于 10 可以得到稳定的测试结果。较大的磁心及更多的绕线圈数需要进一步的确认及调整。
e. L-test 方法在实际应用时，设定测试参数还应根据产品规格的大小，原材料的成份及磁场强度的大小做适当的调整。切勿直接套用。
综合上述分析及 PointA and PointB，磁放大产品具有矩形磁滞曲线，磁材本身的超高导磁率限制了其测试方法及准确度。测出的电感量决大部分取决 AC 及 DC 振幅，所以 L-testing 精准测试还存在许多难题。